線陣光度立體成像系統(tǒng)
針對漫反射物體表面細微缺陷的特殊檢測需求,??平Y(jié)合自研的光度立體算法和相機硬件,推出了光度立體成像系統(tǒng)。該視覺系統(tǒng)通過多角度打光的方式,能夠采集物體在不同光照條件下的圖像,并利用自研算法重建出被檢測對象表面的三維形貌信息,從而精準揭示出瑕疵存在狀態(tài)。目前共有三種類型的系統(tǒng):基于穹頂光源線陣光度立體成像系統(tǒng)、基于條形光源線陣光度立體成像系統(tǒng)、基于環(huán)形光源面陣光度立體成像系統(tǒng)。
產(chǎn)品特征
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成像算法強大
系統(tǒng)預設十余種不同的算法結(jié)果圖,每一種都專為捕捉特定的圖像特征而設計,從各個角度精準呈現(xiàn)出物體表面的微小瑕疵;還支持用戶根據(jù)具體的檢測需求調(diào)整算法,從而輸出定制化的圖像,拓寬在不同應用場景中的適用性。
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圖像處理流暢
相機內(nèi)部集成??谱匝泄舛攘Ⅲw算法,對圖像數(shù)據(jù)進行實時計算和分析,大幅減輕上位機的計算負擔,保障了圖像處理的速度和準確性,延遲低至微秒級,滿足生產(chǎn)線上高速、連續(xù)的檢測要求。
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光路設計豐富
針對不同檢測項目,??乒舛攘Ⅲw成像系統(tǒng)支持配置不同的光源方案,確保全方位呈現(xiàn)瑕疵形態(tài)。
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硬件性能卓越
系統(tǒng)可搭配??谱匝械?K/8K線陣相機及900萬像素面陣相機,線陣相機最高行頻150kHz,面陣相機光度立體模式下最高幀率11.68fps,均采用萬兆網(wǎng)接口輸出數(shù)據(jù),輕松應對在線高速檢測。
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系統(tǒng)配置靈活
??乒舛攘Ⅲw成像系統(tǒng)集相機、光源、控制器于一體,支持鏡頭選配,避免了傳統(tǒng)視覺檢測系統(tǒng)繁雜的組件搭配。
應用案例
埃科光度立體成像系統(tǒng)專為檢測漫反射物體表面的細微缺陷和凹凸變化而設計,是鋰電池缺陷檢測、金屬表面瑕疵識別以及其他非鏡面物體檢測的理想選擇。
產(chǎn)品規(guī)格
型號 | SL4KXGV-75K-4 | SL8KXGV-150K-4 | |||
名稱 | 4K線掃4分區(qū)光度立體相機 | 8K線掃4分區(qū)光度立體相機 | |||
傳感器類型 | Global Shutter CMOS | ||||
圖像模式 | 黑白 | ||||
光學尺寸 | 28.67 mm | 57.34 mm | |||
分辨率 | 4096*2 | 8192*1 | |||
像素大小 | 7μm * 7μm | ||||
最大行頻 | 75K | 150KHz | |||
像素位寬 | 8 bit | ||||
動態(tài)范圍 | ≥54.0 dB | ≥54.1 dB | |||
數(shù)據(jù)率 | 307MB/s(光度立體模式614MB/s) | 1229MB/s | |||
觸發(fā)模式 | 外部觸發(fā) / 內(nèi)部自由運行 | ||||
觸發(fā)源 | 外部IO / 軟件觸發(fā) | ||||
曝光控制 | 時間設置 / 外部脈寬控制 | ||||
曝光時間 | 3.375μs - 63998.375μs(步長:0.0125μs) | ||||
增益范圍 | 1/2/3/4/5/6/7/8x(模擬增益) 0.1-8.0(數(shù)字增益) |
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鏡頭接口 | M42 | M72 | |||
數(shù)據(jù)接口 | 10GigE Vision(使用 SFP+) | ||||
電源接口 | DB15接口 | ||||
電源規(guī)格 | DC12 - 24V(±10%)1.5A | ||||
相機功率 | 光口:10.4W / 電口:8.6W | TBD | |||
外殼尺寸 | 330mm(W) x 388mm(D) x348mm(H) | 相機:76mm(W) x 76mm(D) x 65.1mm(H) 系統(tǒng):478mm(W) x 500mm(D) x441.77mm(H) |
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運行溫度 | 0~55℃ | ||||
儲存溫度 | -20~75℃ | ||||
輸出圖像類型 | 光度立體模式Gradient X、Gradient Y、Texture、Integration、Curl、average、max、enhance;普通模式輸出原始圖像 |